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產(chǎn)品詳情

渦流測厚儀ED400

 
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品牌 天星 型號 ED400

ED400型渦流測厚儀

       儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。

技術(shù)參數(shù)

測量范圍:     0~500μm
測量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分 辨 率:      0~50μm:0.1μm;
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可選)
使用溫度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     280g



天星渦流測厚儀ED400是ED300型測厚儀的改進型,儀器性能大幅度提高。儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查,可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。

渦流測厚儀ED400儀器特點

ED400型渦流測厚儀與ED300型相比,具有如下特點:*量程寬 ED400型的量程達到0~500μm。

*精度高 ED400型的測量精度達到2%。

*分辨率高 ED400型的分辨率達到0.1μm。

*校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點,即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。

*基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量誤差不大于1~2μm。

*可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。

*穩(wěn)定性提高 采用先進的溫度補償技術(shù),測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。

*探頭線壽命長 采用德國進口的,在德國測厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命可大大延長。

*探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計,探頭芯壽命可大大延長。

*探頭可互換 外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。


渦流測厚儀ED400技術(shù)參數(shù)

測量范圍: 0~500μm

測量精度: 0~50μm:±1μm;

50~500μm:±2%

分辨率: 0~50μm:0.1μm、

50~500μm:1μm;

0~500μm:1μm(可選)


配置與選配

標準配置

主機 1臺

探頭 1支

基體 1塊(6063合金)

校正箔片 1片(約50μm,附檢測報告)

使用說明書 1份

合格證 1份

保修單 1份

手提式儀器箱1個

可選附件

備用探頭

基體

校正箔片(約50μm,附檢測報告)


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